사진설명 : Sandisk의 MobileMate MS+카드 리더기
미국의 대표적인 플래쉬 메모리 업체 SanDisk는 20일「Electronic Storage Media Test」라는 보고서를 통해, 공항에서 화물 검사시 사용되는 X선에 의해서도 플래쉬 메모리에 내장된 데이터가 손상되지 않는다는 결과를 발표했다.
이 보고서는 미 교통안전국(TSA: Transportation Security Administration)의 협조 하에 올해 10월에서 11월까지, 컴팩트 플래쉬, SD카드, 메모리스틱, 스마트 미디어 등의 미디어를 대상으로 실제 현장에서 사용되고 있는 X선 검사 장치로 테스트한 결과로 작성 되었다. 검사는 미디어 단독, 카메라 내장시 경우 모두 실시되었으며, 그 결과 내부 데이터, 미디어의 성능 모두 이상이 없었다고 한다. Sandisk는 논평에서 해외 여행시에도 데이터의 손실에 대한 걱정 없이 공항 검색대를 통과할 수 있는 플래쉬 메모리의 우수성을 증명한 것이라고 언급했다.
- 노트기어, http://www.sandisk.com
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